1.本技术涉及有线通信集成电路领域，信号具体而言，检测涉及一种信号检测装置和再驱动器
。装置制作
背景技术：
2.再驱动器可以提升长距离信道的和再信号完整性，并且可以降低高速串行电路中接收器的驱动器均衡压力，在消费电子有线通信领域得到了广泛的信号应用
。
在电路实际使用过程中，检测再驱动器需要实时检测上游发送信号，装置制作来判断是和再否启动主电路功能，以实现节省功耗
、驱动器
提高产品续航的信号目的
。
由于再驱动器接受到的检测高速信号是经过较长信道传输的，其幅度发生了较大程度的装置制作衰减，所以上述信号检测器需要从传输噪声中区分出小幅度有效信号，和再这对检测阈值范围进行了限定
。驱动器
如果检测阈值较大，有效信号不能唤醒再驱动器主电路；如果检测阈值较小，小于传输噪声幅度，再驱动器主电路将被误唤醒，导致功耗浪费
。
然而，现有结构高速信号检测器的性能受到工艺
、
供电电压和温度
(process voltage temperature
，简称为
pvt)
变化的影响，其检测阈值会在较大范围波动，突破了限定的范围，将引起电路功能失效的问题
。
3.因此，亟需一种方法可以解决现有高速信号检测器受到工艺
、
供电电压和温度影响，导致信号检测结果不准确的问题
。
技术实现要素：
4.本技术的主要目的在于提供一种信号检测装置和再驱动器，以至少解决现有技术中高速信号检测器受到工艺
、
供电电压和温度影响，导致信号检测结果不准确的问题
。
5.根据本技术的一方面，提供了一种信号检测装置，包括：放大单元，所述放大单元的第一端用于输入第一差分信号对，所述放大单元的第二端用于输入参考信号对，所述放大单元包括第一放大模块和第二放大模块，所述第一放大模块用于对所述第一差分信号对进行放大处理，得到第一差分放大信号对，所述第二放大模块用于对所述参考信号对进行放大处理，得到参考放大信号，所述放大单元的第三端用于输出所述第一差分放大信号对和参考放大信号对，所述第一差分放大信号对包括第一目标信号和第二目标信号，所述参考放大信号对包括第一目标参考信号和第二目标参考信号，所述第一放大模块和所述第二放大模块相同；比较单元，与所述放大单元的第三端电连接，所述比较单元用于分别比较所述第一目标信号和所述第二目标信号与参考阈值的大小关系，并输出比较结果，其中，所述参考阈值为所述第一目标参考信号和所述第二目标参考信号的差值
。
6.可选地，所述第一放大模块和所述第二放大模块分别包括第一开关器件
、
第二开关器件
、
第三开关器件
、
第一阻抗以及第二阻抗，所述第二开关器件与所述第三开关器件相同，所述第一开关器件的第一端用于输入第一控制电压，所述第一开关器件的第二端分别与所述第二开关器件的第三端和所述第三开关器件的第三端电连接，所述第一开关器件的第三端与接地端连接，所述第二开关器件的第二端与所述第一阻抗的第一端电连接，所述
第三开关器件的第二端与所述第二阻抗的第一端电连接，所述第一阻抗的第二端与所述第二阻抗的第二端电连接，所述第一放大模块的所述第二开关器件的第一端和所述第三开关器件的第一端用于输入所述第一差分信号对，所述第二放大模块的所述第二开关器件的第一端和所述第三开关器件的第一端用于输入所述参考信号对，所述第一放大模块的所述第二开关器件的第二端和所述第三开关器件的第二端用于输出所述第一差分放大信号对，所述第二放大模块的所述第二开关器件的第二端和所述第三开关器件的第二端用于输出所述参考放大信号对
。
7.可选地，所述第一开关器件
、
所述第二开关器件以及所述第三开关器件为
nmos
管，所述第一阻抗和所述第二阻抗为电阻，所述
nmos
管的栅极为所述第一开关器件
、
所述第二开关器件以及所述第三开关器件的第一端，所述
nmos
管的漏极为所述第一开关器件
、
所述第二开关器件以及所述第三开关器件的第二端，所述
nmos
管的源极为所述第一开关器件
、
所述第二开关器件以及所述第三开关器件的第三端
。
8.可选地，所述比较单元包括第四开关器件
、
第五开关器件
、
第六开关器件
、
第七开关器件
、
第八开关器件
、
第九开关器件
、
第十开关器件
、
第十一开关器件
、
第十二开关器件
、
第三阻抗
、
第四阻抗
、
第五阻抗
、
第六阻抗以及反相器，所述第四开关器件
、
所述第五开关器件
、
所述第六开关器件以及所述第七开关器件相同，所述第八开关器件和所述第九开关器件相同，所述第四开关器件的第一端和所述第五开关器件的第一端用于输入所述第一差分放大信号对，所述第四开关器件的第二端分别与所述第五开关器件的第二端
、
所述第八开关器件的第一端
、
所述第八开关器件的第二端以及所述第三阻抗的第一端电连接，所述第三阻抗的第二端分别与所述第四阻抗的第一端和所述第九开关器件的第一端电连接，所述第八开关器件的第三端分别与所述第四阻抗的第二端
、
所述第九开关器件的第三端以及所述第十开关器件的第三端电连接，所述第六开关器件的第一端和所述第七开关器件的第一端用于输入所述参考放大信号对，所述第六开关器件的第二端分别与所述第七开关器件的第二端
、
所述第九开关器件的第二端以及所述第十开关器件的第一端电连接，所述第四开关器件的第三端分别与所述第五开关器件的第三端
、
所述第六开关器件的第三端
、
所述第七开关器件的第三端
、
所述第十一开关器件的第二端以及所述第五阻抗的第一端电连接，所述第十一开关器件的第一端和所述第十二开关器件的第一端用于输入第二控制电压，所述第十一开关器件的第三端
、
所述第五阻抗的第二端
、
所述第十二开关器件的第三端以及所述第六阻抗的第二端与接地端连接，所述第十二开关器件的第二端分别与所述第十开关器件的第二端
、
所述第六阻抗的第一端以及所述反相器的第一端电连接，所述反相器的第二端用于输出所述比较结果
。
9.可选地，所述第八开关器件
、
所述第九开关器件以及所述第十开关器件为
pmos
管，所述第四开关器件
、
所述第五开关器件
、
所述第六开关器件
、
所述第七开关器件
、
所述第十一开关器件以及所述第十二开关器件为
nmos
管，所述第三阻抗为电阻，所述第四阻抗
、
所述第五阻抗以及所述第六阻抗为电容，所述
pmos
管的栅极为所述第八开关器件
、
所述第九开关器件以及所述第十开关器件的第一端，所述
pmos
管的漏极为所述第八开关器件
、
所述第九开关器件以及所述第十开关器件的第二端，所述
pmos
管的源极为所述第八开关器件
、
所述第九开关器件以及所述第十开关器件的第三端，所述
nmos
管的栅极为所述第四开关器件
、
所述第五开关器件
、
所述第六开关器件
、
所述第七开关器件
、
所述第十一开关器件以及
所述第十二开关器件的第一端，所述
nmos
管的漏极为所述第四开关器件
、
所述第五开关器件
、
所述第六开关器件
、
所述第七开关器件
、
所述第十一开关器件以及所述第十二开关器件的第二端，所述
nmos
管的源极为所述第四开关器件
、
所述第五开关器件
、
所述第六开关器件
、
所述第七开关器件
、
所述第十一开关器件以及所述第十二开关器件的第三端
。
10.可选地，所述信号检测装置还包括：参考信号生成单元，与所述放大单元电连接，所述参考信号生成单元用于生成所述参考信号对，所述参考信号对包括第一参考信号和第二参考信号，所述参考信号生成单元包括运算放大器
、
第十三开关器件
、
第十四开关器件
、
第十五开关器件
、
第七阻抗
、
第八阻抗
、
第九阻抗以及第十阻抗，所述第十四开关器件与所述第十五开关器件相同，所述第九阻抗和所述第十阻抗相同，所述运算放大器的第一端用于输入第三控制电压，所述运算放大器的第二端分别与所述第八阻抗的第一端
、
所述第九阻抗的第一端以及所述第十阻抗的第二端电连接，所述运算放大器的第三端与所述第七阻抗的第二端和所述第十三开关器件的第一端电连接，所述第七阻抗的第一端与所述第八阻抗的第二端电连接，所述第十三开关器件的第三端用于输入电源电压，所述第十三开关器件的第二端与所述第九阻抗的第二端电连接且用于输出所述第一参考信号，所述第十四开关器件的第一端分别与所述第十四开关器件的第二端
、
所述第十五开关器件的第一端电连接且用于输入控制电流，所述第十四开关器件的第三端和所述第十五开关器件的第三端与接地端电连接，所述第十五开关器件的第二端与所述第十阻抗的第一端电连接且用于输出所述第二参考信号
。
11.可选地，所述第十三开关器件为
pmos
管，所述第十四开关器件和所述第十五开关器件为
nmos
管，所述第七阻抗
、
所述第九阻抗
、
所述第十阻抗为电阻，所述第八阻抗为电容，所述
pmos
管的栅极为所述第十三开关器件的第一端，所述
pmos
管的漏极为所述第十三开关器件的第二端，所述
pmos
管的源极为所述第十三开关器件的第三端，所述
nmos
管的栅极为所述第十四开关器件和所述第十五开关器件的第一端，所述
nmos
管的漏极为所述第十四开关器件和所述第十五开关器件的第二端，所述
nmos
管的源极为所述第十四开关器件和所述第十五开关器件的第三端
。
12.可选地，所述信号检测装置还包括：信号处理单元，与所述放大单元电连接，用于对第二差分信号对进行处理，得到并输出所述第一差分信号对，所述第一差分信号对包括第一差分信号和第二差分信号，所述第二差分信号对包括第三差分信号和第四差分信号，所述信号处理单元包括第十一阻抗
、
第十二阻抗
、
第十三阻抗以及第十四阻抗，所述第十一阻抗的第一端用于输入所述第一差分信号，所述第十一阻抗的第二端与所述第十二阻抗的第一端电连接且用于输出所述第三差分信号，所述第十二阻抗的第二端和所述第十三阻抗的第一端电连接且用于输入第三控制电压，所述第十四阻抗的第一端用于输入所述第二差分信号，所述第十三阻抗的第二端与所述第十四阻抗的第二端电连接且用于输出所述第四差分信号
。
13.可选地，所述第十一阻抗和所述第十四阻抗为电容，所述第十二阻抗和所述第十三阻抗为电阻
。
14.根据本技术的另一方面，提供了一种再驱动器，包括：任意一种所述的信号检测装置
。
15.应用本技术的技术方案，提供了一种信号检测装置
。
该装置包括放大单元和比较
单元，放大单元的第一端用于输入第一差分信号对，放大单元的第二端用于输入参考信号对，放大单元包括第一放大模块和第二放大模块，第一放大模块用于对第一差分信号对进行放大处理，得到第一差分放大信号对，第二放大模块用于对参考信号对进行放大处理，得到参考放大信号，放大单元的第三端用于输出第一差分放大信号对和参考放大信号对，第一差分放大信号对包括第一目标信号和第二目标信号，参考放大信号对包括第一目标参考信号和第二目标参考信号，第一放大模块和第二放大模块相同；比较单元与放大单元的第三端电连接，比较单元用于分别比较第一目标信号和第二目标信号与参考阈值的大小关系，并输出比较结果
。
由于放大单元包含两个完全相同的第一放大模块和第二放大模块，提供了完全相同匹配的信号增益通路和参考电压增益通路，可以以保证信号和参考阈值不受工艺
、
供电电压和温度变化的影响，解决了现有高速信号检测器受到工艺
、
供电电压和温度影响，导致信号检测结果不准确的问题
。
附图说明
16.构成本技术的一部分的说明书附图用来提供对本技术的进一步理解，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定
。
在附图中：
17.图1示出了根据本技术的实施例提供的一种信号检测装置的结构框图；
18.图2示出了根据本技术的实施例提供的一种放大单元的结构框图；
19.图3示出了根据本技术的实施例提供的一种比较单元的结构框图；
20.图4示出了根据本技术的实施例提供的一种参考信号生成单元的结构框图；
21.图5示出了根据本技术的实施例提供的一种信号处理的结构框图
。
22.其中，上述附图包括以下附图标记：
23.100、
放大单元；
101、
第一放大模块；
102、
第二放大模块；
103、
第一开关器件；
104、
第二开关器件；
105、
第三开关器件；
106、
第一阻抗；
107、
第二阻抗；
200、
比较单元；
201、
第四开关器件；
202、
第五开关器件；
203、
第六开关器件；
204、
第七开关器件；
205、
第八开关器件；
206、
第九开关器件；
207、
第十开关器件；
208、
第十一开关器件；
209、
第十二开关器件；
210、
第三阻抗；
211、
第四阻抗；
212、
第五阻抗；
213、
第六阻抗；
214、
反相器；
300、
参考信号生成单元；
301、
运算放大器；
302、
第十三开关器件；
303、
第十四开关器件；
304、
第十五开关器件；
305、
第七阻抗；
306、
第八阻抗；
307、
第九阻抗；
308、
第十阻抗；
400、
信号处理单元；
401、
第十一阻抗；
402、
第十二阻抗；
403、
第十三阻抗；
404、
第十四阻抗
。
具体实施方式
24.需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合
。
下面将参考附图并结合实施例来详细说明本技术
。
25.为了使本技术领域的人员更好地理解本技术方案，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分的实施例，而不是全部的实施例
。
基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本技术保护的范围
。
26.需要说明的是，本技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第
二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序
。
应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本技术的实施例
。
此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程
、
方法
、
系统
、
产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程
、
方法
、
产品或设备固有的其它步骤或单元
。
27.正如背景技术中所介绍的，现有技术中高速信号检测器的性能受到
pvt
变化的影响，其检测阈值会在较大范围波动，突破了限定的范围，将引起电路功能失效的问题，为解决上述问题，本技术的实施例提供了一种信号检测装置和再驱动器
。
28.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述
。
29.图1是根据本技术实施例的一种信号检测装置的结构框图
。
如图1所示，该装置包括：
30.放大单元
100
，上述放大单元
100
的第一端用于输入第一差分信号对，上述放大单元
100
的第二端用于输入参考信号对，上述放大单元
100
包括第一放大模块
101
和第二放大模块
102
，上述第一放大模块
101
用于对上述第一差分信号对进行放大处理，得到第一差分放大信号对，上述第二放大模块
102
用于对上述参考信号对进行放大处理，得到参考放大信号对，上述放大单元
100
的第三端用于输出上述第一差分放大信号对和参考放大信号对，上述第一差分放大信号对包括第一目标信号和第二目标信号，上述参考放大信号对包括第一目标参考信号和第二目标参考信号，上述第一放大模块
101
和上述第二放大模块
102
相同；
31.具体地，由于再驱动器接受到的第一差分信号对是经过较长信道传输的，其幅度发生了较大程度的衰减，所以上述放大单元中的第一放大模块
101
用于对上述第一差分信号对进行放大
。
为了保证第一差分信号对与参考信号的增益相同，并且不受
pvt
变化的影响，第二放大模块
102
用于对参考信号对进行放大，并且第一放大模块
101
和第二放大模块
102
相同，可以实现上述信号检测装置中的完全匹配的信号增益和参考电压增益
。
32.比较单元
200
，与上述放大单元
100
的第三端电连接，上述比较单元
200
用于分别比较上述第一目标信号和上述第二目标信号与参考阈值的大小关系，并输出比较结果，其中，上述参考阈值为上述第一目标参考信号和上述第二目标参考信号的差值
。
33.具体地，检测到大于等于上述参考阈值的第一目标信号或第二目标信号，则输出高电平；检测到小于上述参考阈值的第一目标信号或第二目标信号，则输出低电平
。
实现对第一差分信号对的检测
。
34.通过本实施例，提供了一种信号检测装置
。
该装置包括放大单元和比较单元，放大单元的第一端用于输入第一差分信号对，放大单元的第二端用于输入参考信号对，放大单元包括第一放大模块和第二放大模块，第一放大模块用于对第一差分信号对进行放大处理，得到第一差分放大信号对，第二放大模块用于对参考信号对进行放大处理，得到参考放大信号，放大单元的第三端用于输出第一差分放大信号对和参考放大信号对，第一差分放大信号对包括第一目标信号和第二目标信号，参考放大信号对包括第一目标参考信号和第二目标参考信号，第一放大模块和第二放大模块相同；比较单元与放大单元的第三端电连接，比较单元用于分别比较第一目标信号和第二目标信号与参考阈值的大小关系，并输出比较结果
。
由于放大单元包含两个完全相同的第一放大模块和第二放大模块，提供了完全
相同匹配的信号增益通路和参考电压增益通路，可以以保证信号和参考阈值不受工艺
、
供电电压和温度变化的影响，解决了现有高速信号检测器受到工艺
、
供电电压和温度影响，导致信号检测结果不准确的问题
。
35.具体实现过程中，如图2所示，上述第一放大模块和上述第二放大模块分别包括第一开关器件
103、
第二开关器件
104、
第三开关器件
105、
第一阻抗
106
以及第二阻抗
107
，上述第二开关器件
104
与上述第三开关器件
105
相同，上述第一开关器件
103
的第一端用于输入第一控制电压，上述第一开关器件
103
的第二端分别与上述第二开关器件
104
的第三端和上述第三开关器件
105
的第三端电连接，上述第一开关器件
103
的第三端与接地端连接，上述第二开关器件
104
的第二端与上述第一阻抗
106
的第一端电连接，上述第三开关器件
105
的第二端与上述第二阻抗
107
的第一端电连接，上述第一阻抗
106
的第二端与上述第二阻抗
107
的第二端电连接，上述第一放大模块的上述第二开关器件
104
的第一端和上述第三开关器件
105
的第一端用于输入上述第一差分信号对，上述第二放大模块的上述第二开关器件
104
的第一端和上述第三开关器件
105
的第一端用于输入上述参考信号对，上述第一放大模块的上述第二开关器件
104
的第二端和上述第三开关器件
105
的第二端用于输出上述第一差分放大信号对，上述第二放大模块的上述第二开关器件
104
的第二端和上述第三开关器件
105
的第二端用于输出上述参考放大信号对
。
该装置通过设置第一放大模块和第二放大模块在晶体管尺寸
、
电阻负载尺寸和电流偏置方面保持完全一致，可以进一步保证两组信号的放大增益比例为1：1，并且该比例不受
pvt
变化影响
。
36.具体地，差分数据信号的第一放大模块和放大参考电压的第二放大模块在晶体管尺寸
、
电阻负载尺寸和电流偏置方面保持完全一致，保证两组信号的放大增益比例为1：1，并且该比例不受
pvt
变化影响
。v
inp
和vinn
为上述第一差分信号对，vrefp
和vrefn
为上述参考信号对，vamp_p
和vamp_n
为上述第一差分放大信号对，vamp1_p
和vamp1_n
为上述参考放大信号对，vb
为上述第一控制电压
。
37.如图2所示，本技术的上述第一开关器件
103、
上述第二开关器件
104
以及上述第三开关器件
105
为
nmos
管，上述第一阻抗
106
和上述第二阻抗
107
为电阻，上述
nmos
管的栅极为上述第一开关器件
103、
上述第二开关器件
104
以及上述第三开关器件
105
的第一端，上述
nmos
管的漏极为上述第一开关器件
103、
上述第二开关器件
104
以及上述第三开关器件
105
的第二端，上述
nmos
管的源极为上述第一开关器件
103、
上述第二开关器件
104
以及上述第三开关器件
105
的第三端
。
该装置可以进一步简化上述放大单元
。
38.具体地，实际上，上述第一放大模块和第二放大模块采用电流模逻辑结构，对信道衰减信号进行放大
。
电流模逻辑
(current mode logic
，简称为
cml)
是一种高速
mos
逻辑结构，其工作原理是：采用差分晶体管对的形式实现逻辑门，晶体管的源极作为输入，接地的电流作为低电平，源极电流作为高电平，当输入为高电平时，源极电流通过晶体管流向负载，形成高电平输出
。
输出用差分形式，即两个输出电平几乎完全相反，缩小了空间电荷和电磁场
。
39.如图3所示，上述比较单元包括第四开关器件
201、
第五开关器件
202、
第六开关器件
203、
第七开关器件
204、
第八开关器件
205、
第九开关器件
206、
第十开关器件
207、
第十一开关器件
208、
第十二开关器件
209、
第三阻抗
210、
第四阻抗
211、
第五阻抗
212、
第六阻抗
213
以及反相器
214
，上述第四开关器件
201、
上述第五开关器件
202、
上述第六开关器件
203
以及
上述第七开关器件
204
相同，上述第八开关器件
205
和上述第九开关器件
206
相同，上述第四开关器件
201
的第一端和上述第五开关器件
202
的第一端用于输入上述第一差分放大信号对，上述第四开关器件
201
的第二端分别与上述第五开关器件
202
的第二端
、
上述第八开关器件
205
的第一端
、
上述第八开关器件
205
的第二端以及上述第三阻抗
210
的第一端电连接，上述第三阻抗
210
的第二端分别与上述第四阻抗
211
的第一端和上述第九开关器件
206
的第一端电连接，上述第八开关器件
205
的第三端分别与上述第四阻抗
211
的第二端
、
上述第九开关器件
206
的第三端以及上述第十开关器件
207
的第三端电连接，上述第六开关器件
203
的第一端和上述第七开关器件
204
的第一端用于输入上述参考放大信号对，上述第六开关器件
203
的第二端分别与上述第七开关器件
204
的第二端
、
上述第九开关器件
206
的第二端以及上述第十开关器件
207
的第一端电连接，上述第四开关器件
201
的第三端分别与上述第五开关器件
202
的第三端
、
上述第六开关器件
203
的第三端
、
上述第七开关器件
204
的第三端
、
上述第十一开关器件
208
的第二端以及上述第五阻抗
212
的第一端电连接，上述第十一开关器件
208
的第一端和上述第十二开关器件
209
的第一端用于输入第二控制电压，上述第十一开关器件
208
的第三端
、
上述第五阻抗
212
的第二端
、
上述第十二开关器件
209
的第三端以及上述第六阻抗
213
的第二端与接地端连接，上述第十二开关器件
209
的第二端分别与上述第十开关器件
207
的第二端
、
上述第六阻抗
213
的第一端以及上述反相器
214
的第一端电连接，上述反相器
214
的第二端用于输出上述比较结果
。
该装置既可以实现信号幅度的检测，还可以实现幅度比较，简化上述信号检测装置
。
40.具体地，第四开关器件和第五开关器件
、
第六开关器件和第七开关器件分别构成了两个整流器，整流器输出电压vd
和vd1
与输入信号幅度相关，第一差分放大对和参考放大信号对越大，vd
和vd1
越小
。
如果参考阈值被设定在某一固定值上，那么vd1
的值便取决于vd
的变化
。va为上述第二控制电压，vamp_p
和vamp_n
为上述第一差分放大信号对，vamp1_p
和vamp1_n
为上述参考放大信号对，当vamp_p
、v
amp_n
的幅度增大时，vd
减小，vd1
增大；在第一差分放大对的幅度大于参考放大信号对时，vd1
经过第八开关器件和第九开关器件，将vo
拉低到接近地线，并使vout
输出为高
。
当第一差分放大对的幅度减小时，vd
增大，vd1
减小；在第一差分放大对幅度小于参考放大信号对时，vd1
经过第八开关器件和第九开关器件将vo
拉高到接近电源线，并使vout
输出为低
。
41.在一些实施例上，如图3所示，上述第八开关器件
205、
上述第九开关器件
206
以及上述第十开关器件
207
为
pmos
管，上述第四开关器件
201、
上述第五开关器件
202、
上述第六开关器件
203、
上述第七开关器件
204、
上述第十一开关器件
208
以及上述第十二开关器件
209
为
nmos
管，上述第三阻抗
210
为电阻，上述第四阻抗
211、
上述第五阻抗
212
以及上述第六阻抗
213
为电容，上述
pmos
管的栅极为上述第八开关器件
205、
上述第九开关器件
206
以及上述第十开关器件
207
的第一端，上述
pmos
管的漏极为上述第八开关器件
205、
上述第九开关器件
206
以及上述第十开关器件
207
的第二端，上述
pmos
管的源极为上述第八开关器件
205、
上述第九开关器件
206
以及上述第十开关器件
207
的第三端，上述
nmos
管的栅极为上述第四开关器件
201、
上述第五开关器件
202、
上述第六开关器件
203、
上述第七开关器件
204、
上述第十一开关器件
208
以及上述第十二开关器件
209
的第一端，上述
nmos
管的漏极为上述第四开关器件
201、
上述第五开关器件
202、
上述第六开关器件
203、
上述第七开关器件
204、
上述第十一开关器件
208
以及上述第十二开关器件
209
的第二端，上述
nmos
管的源极为上述第四
开关器件
201、
上述第五开关器件
202、
上述第六开关器件
203、
上述第七开关器件
204、
上述第十一开关器件
208
以及上述第十二开关器件
209
的第三端
。
该装置可以进一步简化上述比较单元
。
42.具体地，构成上述整流器的第四开关器件
、
第五开关器件
、
第六开关器件以及第七开关器件之间的尺寸保持一致，第八开关器件和第九开关器件之间尺寸保持一致，可以保证差分信号幅度与参考电压的增益在任何
pvt
条件下维持
1:1。
43.在一些实施例上，如图4所示，上述信号检测装置还包括：参考信号生成单元
300
，与上述放大单元电连接，上述参考信号生成单元
300
用于生成上述参考信号对，上述参考信号对包括第一参考信号和第二参考信号，上述参考信号生成单元
300
包括运算放大器
301、
第十三开关器件
302、
第十四开关器件
303、
第十五开关器件
304、
第七阻抗
305、
第八阻抗
306、
第九阻抗
307
以及第十阻抗
308
，上述第十四开关器件
303
与上述第十五开关器件
304
相同，上述第九阻抗
307
和上述第十阻抗
308
相同，上述运算放大器
301
的第一端用于输入第三控制电压，上述运算放大器
301
的第二端分别与上述第八阻抗
306
的第一端
、
上述第九阻抗
307
的第一端以及上述第十阻抗
308
的第二端电连接，上述运算放大器
301
的第三端与上述第七阻抗
305
的第二端和上述第十三开关器件
302
的第一端电连接，上述第七阻抗
305
的第一端与上述第八阻抗
306
的第二端电连接，上述第十三开关器件
302
的第三端用于输入电源电压，上述第十三开关器件
302
的第二端与上述第九阻抗
307
的第二端电连接且用于输出上述第一参考信号，上述第十四开关器件
303
的第一端分别与上述第十四开关器件
303
的第二端
、
上述第十五开关器件
304
的第一端电连接且用于输入控制电流，上述第十四开关器件
303
的第三端和上述第十五开关器件
304
的第三端与接地端电连接，上述第十五开关器件
304
的第二端与上述第十阻抗
308
的第一端电连接且用于输出上述第二参考信号
。
该装置可以快速生成上述参考信号对
。
44.具体地，如果偏置电流由电压电流转化器产生，并且电压电流转化器参考电压由带隙基准电路产生，那么信号阈值电压和电压电流转化器参考电压的比例关系由电阻的比例关系决定，所以参考阈值也不会受
pvt
变化的影响
。
45.本实施例中，如图4所示，上述第十三开关器件
302
为
pmos
管，上述第十四开关器件
303
和上述第十五开关器件
304
为
nmos
管，上述第七阻抗
305、
上述第九阻抗
307、
上述第十阻抗
308
为电阻，上述第八阻抗
306
为电容，上述
pmos
管的栅极为上述第十三开关器件
302
的第一端，上述
pmos
管的漏极为上述第十三开关器件
302
的第二端，上述
pmos
管的源极为上述第十三开关器件
302
的第三端，上述
nmos
管的栅极为上述第十四开关器件
303
和上述第十五开关器件
304
的第一端，上述
nmos
管的漏极为上述第十四开关器件
303
和上述第十五开关器件
304
的第二端，上述
nmos
管的源极为上述第十四开关器件
303
和上述第十五开关器件
304
的第三端
。
该装置可以进一步简化上述参考信号生成单元
。
46.具体地，上述运算放大器
、
第十三开关器件以及第九阻抗构成了一个负反馈环路，将电压vc
锁定在电压vcom
上，ib_ref
为上述控制电流
。
令第九阻抗值和第十阻抗值保持一致，第十四开关器件和第十五开关器件的尺寸保持一致，那么，输入偏置电流分别与第九阻抗和第十阻抗即可产生参考阈值
。
47.作为一种可选的方案，如图5所示，上述信号检测装置还包括：信号处理单元
400
，与上述放大单元电连接，用于对第二差分信号对进行处理，得到并输出上述第一差分信号
对，上述第一差分信号对包括第一差分信号和第二差分信号，上述第二差分信号对包括第三差分信号和第四差分信号，上述信号处理单元
400
包括第十一阻抗
401、
第十二阻抗
402、
第十三阻抗
403
以及第十四阻抗
404
，上述第十一阻抗
401
的第一端用于输入上述第一差分信号，上述第十一阻抗
401
的第二端与上述第十二阻抗
402
的第一端电连接且用于输出上述第三差分信号，上述第十二阻抗
402
的第二端和上述第十三阻抗
403
的第一端电连接且用于输入第三控制电压，上述第十四阻抗
404
的第一端用于输入上述第二差分信号，上述第十三阻抗
403
的第二端与上述第十四阻抗
404
的第二端电连接且用于输出上述第四差分信号
。
由于第二差分信号对可能无法达到上述放大单元的工作电压，因此，在将其输入至放大单元前，该装置可以对上述第二差分信号对进行处理，进一步满足上述放大单元的工作条件
。
48.具体地，上述第十一阻抗
、
第十二阻抗
、
第十三阻抗以及第十四阻抗可以对上述第二差分信号对进行重建
。v
dp
为上述第一差分信号，vdn
为上述第二差分信号，vcom
为第三控制电压，上述第三控制电压还可以输入至参考信号生成单元
300。
49.一种可选的方案，如图5所示，上述第十一阻抗
401
和上述第十四阻抗
404
为电容，上述第十二阻抗
402
和上述第十三阻抗
403
为电阻
。
该装置可以进一步简化上述信号处理单元
。
50.具体地，上述第十一阻抗和上述第十四阻抗为电容对第二差分信号对中的直流进行隔离，上述第十二阻抗和上述第十三阻抗为电阻可以对第二差分信号进行处理
。
51.还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程
、
方法
、
商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程
、
方法
、
商品或者设备所固有的要素
。
在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括要素的过程
、
方法
、
商品或者设备中还存在另外的相同要素
。
52.从以上的描述中，可以看出，本技术上述的实施例实现了如下技术效果：
53.1)、
本技术的信号检测装置，包括放大单元和比较单元，放大单元的第一端用于输入第一差分信号对，放大单元的第二端用于输入参考信号对，放大单元包括第一放大模块和第二放大模块，第一放大模块用于对第一差分信号对进行放大处理，得到第一差分放大信号对，第二放大模块用于对参考信号对进行放大处理，得到参考放大信号，放大单元的第三端用于输出第一差分放大信号对和参考放大信号对，第一差分放大信号对包括第一目标信号和第二目标信号，参考放大信号对包括第一目标参考信号和第二目标参考信号，第一放大模块和第二放大模块相同；比较单元与放大单元的第三端电连接，比较单元用于分别比较第一目标信号和第二目标信号与参考阈值的大小关系，并输出比较结果
。
由于放大单元包含两个完全相同的第一放大模块和第二放大模块，提供了完全相同匹配的信号增益通路和参考电压增益通路，可以以保证信号和参考阈值不受工艺
、
供电电压和温度变化的影响，解决了现有高速信号检测器受到工艺
、
供电电压和温度影响，导致信号检测结果不准确的问题
。
54.2)、
本技术的再驱动器，包括信号检测装置，该信号检测装置包括放大单元和比较单元，放大单元的第一端用于输入第一差分信号对，放大单元的第二端用于输入参考信号对，放大单元包括第一放大模块和第二放大模块，第一放大模块用于对第一差分信号对进行放大处理，得到第一差分放大信号对，第二放大模块用于对参考信号对进行放大处理，得
到参考放大信号，放大单元的第三端用于输出第一差分放大信号对和参考放大信号对，第一差分放大信号对包括第一目标信号和第二目标信号，参考放大信号对包括第一目标参考信号和第二目标参考信号，第一放大模块和第二放大模块相同；比较单元与放大单元的第三端电连接，比较单元用于分别比较第一目标信号和第二目标信号与参考阈值的大小关系，并输出比较结果
。
由于放大单元包含两个完全相同的第一放大模块和第二放大模块，提供了完全相同匹配的信号增益通路和参考电压增益通路，可以以保证信号和参考阈值不受工艺
、
供电电压和温度变化的影响，解决了现有再驱动器的高速信号检测器受到工艺
、
供电电压和温度影响，导致信号检测结果不准确的问题
。
55.以上所述仅为本技术的优选实施例而已，并不用于限制本技术，对于本领域的技术人员来说，本技术可以有各种更改和变化
。
凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改
、
等同替换
、
改进等，均应包含在本技术的保护范围之内
。